我校在第45届日内瓦国际发明展上再获佳绩
       发布时间:2017/04/07 07:44:10

我校在第45届日内瓦国际发明展上再获佳绩

发布时间:2017-04-07浏览次数:作者:刘华翔来源:科技部供图:审核:

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        2017年3月29日至4月2日,第45届日内瓦国际发明展在瑞士日内瓦举行。我校科技部经过前期策划、校内筛选和推荐申报,精心组织两项科技成果参加此次国际发明展,其中,潘时龙教授团队参展的“超高分辨率光矢量分析仪”获得最高奖项——大会特别金奖,也是我校首次荣获该奖项;陶杰教授团队参展的“金属管材塑性成形参数自适应测试方法及装备”获得中国发明协会发明与创新金奖、大会银奖2项奖项。

     “超高分辨率光矢量分析仪”用于光器件幅度、相位和偏振响应的测量,在大容量光通信、高精度传感、超高速片上信号处理、集成光子学等领域有重要的应用价值。其分辨率高达1飞米,比当前全球市场上唯一商用光矢量分析仪表产品的分辨率提高了1600倍,相位测量精确度提高了10倍。

    “金属管材塑性成形参数自适应测试方法及装备”克服了传统管材成形性能测试方法的缺陷,发明了管材真实塑性成形参数的逆向求解方法,自主设计并开发了管材塑性成形参数测试专用设备及自适应优化软件系统,在航空以及核电用管件精确成形等领域有重要的应用前景。

        日内瓦国际发明展(Geneva International Exhibition of Inventions)创办于1973年,由世界知识产权组织、瑞士联邦政府等共同举办,是世界上最大规模及知名度最高的发明展览会之一。在此次发明博览会上,共有来自40个国家和地区的近1000项发明成果参展,其中来自中国内地的发明共83项。除我校外,国内还有清华大学、北京大学、浙江大学、华中科技大学、东南大学、中国科技大学等高校约40个项目参展。

        展览期间,我校展区接洽外国友人达2000余人,到我校展台参观的观众络绎不绝,其中专业观众及评委与我校参展团队进行了深度的技术交流。此次参展取得突出的效果,有效提升了我校科技成果的国际影响力。在此次展览会之前,我校已参加过三届日内瓦发明展会,共斩获7金3银。

我校参展人员与现场观众对接洽谈

“超高分辨率光矢量分析仪”项目奖牌与证书

“金属管材塑性成形参数自适应测试方法及装备”项目奖牌与证书

本届展览会主席、副主席与我校参展人员合影

 

 

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